模擬峰值太陽輻照度只是預(yù)測(cè)和避免熱失效的第一步。太陽能根據(jù)其所射入材料的光譜吸收轉(zhuǎn)換為熱量。例如，在我們的測(cè)試中，如圖3所示，由于陽光負(fù)載導(dǎo)致的薄膜晶體管(TFT)面板的溫升比基于DLP技術(shù)的系統(tǒng)中所用的透射式微透鏡陣列散射屏快6倍，從而使TFT面板更易受到太陽輻照度的損害。

　　在85°C的環(huán)境溫度下，由于其低光譜吸收和高工作溫度的特性，HUD系統(tǒng)中采用DLP技術(shù)的Kuraray散射屏可以承受高達(dá)82kW/m2的太陽輻照度。這種熱性能使DLP技術(shù)能夠支持AR HUD中的長(zhǎng)虛像距離。

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AR HUD的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)與當(dāng)今HUD設(shè)計(jì)中的挑戰(zhàn)有很大不同。AR HUD中的陽光負(fù)載明顯較高，您必須運(yùn)行詳細(xì)的熱模擬并考慮設(shè)計(jì)中的離軸太陽輻照度。有關(guān)陽光負(fù)載建模的更詳細(xì)討論，請(qǐng)參閱白皮書“DLP技術(shù)：加載在增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)抬頭顯示系統(tǒng)中的太陽能?！?/p>

　　其他資源

　　· 下載DLP5530-Q1數(shù)據(jù)表。

　　· 在點(diǎn)亮創(chuàng)意：TI DLP博客上了解有關(guān)DLP技術(shù)汽車芯片組的更多信息。

　　· 采用針對(duì)增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)抬頭顯示參考設(shè)計(jì)的電子設(shè)備和LED驅(qū)動(dòng)器參考設(shè)計(jì)開始設(shè)計(jì)AR HUD和DLP3030-Q1或DLP5530-Q1芯片組。